ProFoss™使用的是高分辨率的二极管阵列近红外分析技术。有漫反射和透射两种不同的技术，分别适用于不同的应用。
在加工过程中系统直接测量移动的样品。一个高强度的双光源直接或通过光纤照射样品，光和样品互相作用后，反射或透过的光由二极管阵列传感器进行检测。双灯系统中的备份灯能够保证系统正常运行，即便切换到一个新的光源时，分析的准确性没有变化。
完整的波长范围可在瞬间得到测量，这使得即使快速移动的样品也能够被准确测定。定标在各个仪器之间可以转移，这样很容易扩展测量点。和加工管理系统的整合可以通过FOSS OPC 接口完成。